通过测足弓高度及面积，常可应用来评测扁平足、高足弓等。

测足弓的常见方法有以下这几个：

1、足印法。

这是比较简单，也是比较常见的。

通过脚踩纸上或者其他容易留下脚印的设备上，然后再根据踩下的足印来判断足弓的类型。

当足印的中间空白比较大，则被判断为高足弓。

当足印的中间空白部分适中，则被判断为正常足。

当足印的中间空白部分很小，甚至填满，则被判断为扁平足。

这种操作，也可以称之为湿脚踩纸法，其优势是成本低，简单。

当然，也有比较明显的缺点，那就是精度低，误差大，判断还是依靠经验，数据单一，容易造成误判。

2、X光/影像学检查。

这个是通过医院的专业X光检查设备进行检测。

这种设备，可以看到足底的骨骼结构，精度也比较高。

对于扁平足、高足弓等问题，都能够精确的判断。

不过，缺点是有辐射，成本相对比较高，不太适合常规的检查。

3、通过足底激光扫描仪进行测量检查。

这种设备，采用的是激光光学及计算机软件分析原理进行测量。

比如精易迅的足底扫描仪，只需要用户站到设备上的扫描区域20秒左右，就可以完成测量，精度可达0.5mm，可以生成20多组关键性的足底数据，能够自动生成测量报告，测量报告可以手机扫描下载，也可以现场打印，同时能够生成stl等三维数据，这些三维数据，可应用在矫正鞋垫的设计与制作。

利用足底激光扫描仪的优势是：精度高、数据全面、非接触式测量、测量速度快，可应用到矫正鞋垫定制以及个性化定制。